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中圖白光干涉儀測粗糙度

簡要描述:中圖白光干涉儀測粗糙度以白光干涉技術原理,對各種精密器件表面進行納米級測量的儀器,通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌,專用于精密零部件之重點部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測量。可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等。

  • 廠商性質:生產廠家
  • 更新時間:2024-08-11
  • 訪  問  量:648

詳細介紹

品牌中圖儀器產地國產
加工定制

中圖白光干涉儀測粗糙度以白光干涉技術原理,對各種精密器件表面進行納米級測量的儀器,通過測量干涉條紋的變化來測量表面三維形貌,專用于精密零部件之重點部位表面粗糙度、微小形貌輪廓及尺寸的非接觸式快速測量。可測各類從超光滑到粗糙、低反射率到高反射率的物體表面,從納米到微米級別工件的粗糙度、平整度、微觀幾何輪廓、曲率等,提供依據ISO/ASME/EUR/GBT四大國內外標準共計300余種2D、3D參數作為評價標準。

中圖白光干涉儀測粗糙度

產品功能

(1)設備提供表征微觀形貌的粗糙度和臺階高、角度等輪廓尺寸測量功能;

(2)測量中提供自動對焦、自動找條紋、自動調亮度等自動化輔助功能;

(3)測量中提供自動拼接測量、定位自動多區域測量功能;

(4)分析中提供校平、圖像修描、去噪和濾波、區域提取等四大模塊的數據處理功能;

(5)分析中提供粗糙度分析、幾何輪廓分析、結構分析、頻率分析、功能分析等五大分析功能;

(6)分析中同時提供一鍵分析和多文件分析等輔助分析功能。

中圖白光干涉儀測粗糙度

性能特色

1、高精度、高重復性

1)采用光學干涉技術、精密Z向掃描模塊和3D重建算法組成測量系統,保證測量精度高;

2)隔振系統,能夠有效隔離頻率2Hz以上絕大部分振動,消除地面振動噪聲和空氣中聲波振動噪聲,保障儀器在大部分的生產車間環境中能穩定使用,獲得高測量重復性;

2、環境噪聲檢測功能

具備的環境噪聲檢測模塊能夠定量評估出外界環境對儀器掃描軸的震動干擾,在設備調試、日常監測、故障排查中能夠提供定量的環境噪聲數據作為支撐。

3、精密操縱手柄

集成X、Y、Z三個方向位移調整功能的操縱手柄,可快速完成載物臺平移、Z向聚焦、找條紋等測量前工作。

4、雙重防撞保護措施

在初級的軟件ZSTOP設置Z向位移下限位進行防撞保護外,另在Z軸上設計有機械電子傳感器,當鏡頭觸碰到樣品表面時,儀器自動進入緊急停止狀態,最大限度的保護儀器,降低人為操作風險。

5、雙通道氣浮隔振系統

既可以接入客戶現場的穩定氣源也可以接入標配降噪空壓機,在無外接氣源的條件下也可穩定工作。

中圖白光干涉儀測粗糙度

中圖白光干涉儀測粗糙度具有測量精度高、操作便捷、功能齊全、測量參數涵蓋面廣的優點,測量單個精細器件的過程用時短,確保了高款率檢測。白光干涉儀的特殊光源模式,可以廣泛適用于從光滑到粗糙等各種精細器件表面的測量。


在光學行業中的應用

光學器件,例如各種光學鏡片和玻璃,屬于超精密加工的產物,因此其表面質量等級都非常高,接觸式輪廓儀會劃傷表面,而且由于其高透明度,一般的非接觸式光學影像方法也束手無策,而中圖儀器利用光學干涉原理研制而成的SuperView W1光學3D表面輪廓儀,能解決這兩個難題,為光學鏡片和玻璃的表面質量檢測提供了標準解決方案。

中圖白光干涉儀測粗糙度

光學透鏡檢測

中圖白光干涉儀測粗糙度

藍寶石玻璃檢測

中圖白光干涉儀測粗糙度

玻璃屏檢測

中圖白光干涉儀測粗糙度

玻璃表面臺階檢測

部分技術指標

型號

W1

光源白光LED
影像系統1024×1024
干涉物鏡

標配:10×

選配:2.5×、5×、20×、50×、100×

光學ZOOM

標配:0.5×

選配:0.375×、0.75×、1×

標準視場0.98×0.98㎜(10×物鏡,光學ZOOM 0.5×)


XY位移平臺

尺寸
320×200㎜
移動范圍140×100㎜
負載10kg
控制方式電動
Z軸聚焦行程100㎜
控制方式電動
臺階測量
可測樣品反射率0.05%~100
主機尺寸700×606×920㎜
懇請注意:因市場發展和產品開發的需要,本產品資料中有關內容可能會根據實際情況隨時更新或修改,恕不另行通知,不便之處敬請諒解。

如有疑問或需要更多詳細信息,請隨時聯系中圖儀器咨詢。


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